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集成电路高温动态老化

规格型号:ELEA-J
仪器分类:其他仪器 -> 其他 -> 其他
生产厂商: 杭州可靠性仪器厂
仪器类别: 通用
中国船舶重工集团公司第七一三研究所
温度变化范围:室温~150℃试验容量:208×16(以DIP14计)信号检测:64路信号示波监测接口,宽范围数字模拟信号频率自动测试、记录电源:可程控VCC、VMUX、VEE电源输出能力:2V~18V/10A
可用于中小规模数字及通用模拟集成电路动态老化试验
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