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1仪器X光源系统
1.1 X-射线发生器 最大输出功率：600W；管电压：20-40kV，1kVstep；管电流：2-15mA，1mAstep；
1.2 X-射线光管：标准尺寸Cu靶，满载功率：1KW；
2测角仪系统：
2.1测角仪：立式测角仪；
2.2角度重现性：≤0.001；
2.3扫描方式：θ/2θ测角仪；
2.4扫描范围：-3°~+145°；
2.5驱动方式：步进马达驱动；
2.6样品架：60片；
3光学系统：三狭缝系统
4检测器系统
4.1高计数率闪烁晶体NaI计数器SC：
最大计数：1,000,000cps；
线性范围：700,000cps；
4.2一维超高速半导体检测器：
最大计数：≥1x108cps；
背景：≤0.1cps；
能量分辨功能：具有高计数模式及去除荧光背景模式功能，能消除含铁、钴、钨样品产生的荧光 -
点阵参数精密化，晶粒大小、晶胞畸变、结晶度分析
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可进行样品测试，送样检测
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按照校内规定
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协商
