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波长:1064nm;二次谐波:大于e-14;三次谐波:大于e-18;ccd像素尺寸:小于18微米;分辨率:0.1微米
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可测二阶、三阶非线性极化率,结合共聚焦显微镜可研究材料的谐波特性,探索材料晶体取向、对称性与界面效应
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可测二阶、三阶非线性极化率,结合共聚焦显微镜可研究材料的谐波特性,探索材料晶体取向、对称性与界面效应
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可测二阶、三阶非线性极化率,结合共聚焦显微镜可研究材料的谐波特性,探索材料晶体取向、对称性与界面效应
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内部