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1 X射线发生器：最大输出功率：3kW，管电压、管电流的启动、调节、关闭均由计算机控制。高压稳定度：±0.005% (外电路波动±10%)2 X射线光管：陶瓷Cu靶X射线管，功率：2.2kW，额定电流：2～60mA；额定电压；20～60kV；最小焦斑尺寸：0.4 × 12mm2。3 X射线防护：仪器自带安全连锁机构、剂量优于国标，辐射量小于0.5mSv/h。4 光学编码θ/θ测角仪系统：配备光学编码系统。要求如下：4.1 扫描方式：θ/θ可联动或单动，样品水平方式4.2 高精度光学编码，角度最小步进：1/10000°4.3 设定重复性：1/10000?4.4 测角仪半径：300 mm4.5 测角仪扫描范围：-10～163°（标准样品台）
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SmartLab SE型单晶外延薄膜分析仪利用X射线分析多晶材料的各种属性。是一台由分析测试单晶外延薄膜织构为主，兼具X衍射粉末物相分析等功能的综合性仪器。仪器配置有能快速变换的一体化聚焦、平行光路、多功能样品台和一维半导体阵列检测器等。仪器具有自动调整光路系统、自动狭缝系统、薄膜分析系统、织构系统等及数据分析软件等；探测器适合从低角度(2θ 0.3°)到高角度的信号检测。
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SmartLab SE型单晶外延薄膜分析仪利用X射线分析多晶材料的各种属性。是一台由分析测试单晶外延薄膜织构为主，兼具X衍射粉末物相分析等功能的综合性仪器。仪器配置有能快速变换的一体化聚焦、平行光路、多功能样品台和一维半导体阵列检测器等。仪器具有自动调整光路系统、自动狭缝系统、薄膜分析系统、织构系统等及数据分析软件等；探测器适合从低角度(2θ 0.3°)到高角度的信号检测。
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SmartLab SE型单晶外延薄膜分析仪利用X射线分析多晶材料的各种属性。是一台由分析测试单晶外延薄膜织构为主，兼具X衍射粉末物相分析等功能的综合性仪器。仪器配置有能快速变换的一体化聚焦、平行光路、多功能样品台和一维半导体阵列检测器等。仪器具有自动调整光路系统、自动狭缝系统、薄膜分析系统、织构系统等及数据分析软件等；探测器适合从低角度(2θ 0.3°)到高角度的信号检测。
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内部
