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1. 微焦斑X射线Cu光源运行功率：55W
2. 微焦斑X射线Mo光源运行功率：70W
3. φ轴：360°旋转 重复精度：≤0.001°
4. ω轴/2θ： -270° ～ 270°旋转 重复精度：≤0.0002°
5． Kappa：-175° ～ 175°旋转 重复精度：≤0.001°
6. CMOS芯片尺寸：140×100 mm²
7. CMOS面探仪可移动距离范围：35 ～ 241 mm -
测定单晶样品的准确立体结构，从而给出详细的键长、键角、构型、构像甚至成键电子密度及分子在晶格中的排列情况，以达到在化学结晶学领域准确、快速测定晶体结构，区分和确定晶体的手征性及空间结构。在分子和原子水平上提供晶态物质的微观结构信息。
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晶体结构测试
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1、常温测试样品：
选取尺寸合适品质好单晶样品，最好选用晶体尺寸合适（0.1~0.3 mm）、外观均衡的晶体3～5颗。置于小样品瓶或者用少许凡士林粘在载玻片上。
3、低温测试样品：
若样品母液为水相，可直接将带烧杯或样品瓶送样。
若样品在有挥发和毒性的溶液中，请将样品和母液密封在带盖子的小样品瓶中后再送样 -
常温200/样，低温301/样
