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分辨率:二次电子图像:≤ 0.6 nm (15 kV), ≤ 0.7 nm (1 kV),≤1.0 nm(0.5 kV)。分析模式分辨率:≤ 3.0 nm(WD=10 mm,5 kV,5 nA)
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场发射扫描电子显微镜主要用于材料表面的微观形貌的高分辨观察
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形貌观察
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样品要足够干燥,暂不接收粉末样品测试,提前一周预约
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400元/小时