200KV场发射透射电镜+冷冻超薄切片机系统
- 规格型号：JEOL JEM-F200
- 仪器分类：分析仪器 -> 电子光学仪器 -> 透射电镜
- 生产厂商： 日本电子株式会社
- 仪器设备类别： 通用
- 河南大学
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1.电子枪类型：肖特基场发射电子枪
2.能量分辨率：≤0.70eV，适用于高分辨的eels研究
3.小束斑下束流：≥2.5nA(束斑尺寸为1.0nmφ时)
4 分辨率
4.1点分辨率：≤0.23nm@200KV
4.2线分辨率：≤0.10nm@200KV；0.14nm@80KV
4.3背散射电子分辨率：≤1.0nm@200KV
4.4 STEM BF/DF分辨率：≤0.16nm@200KV；≤0.31nm@80KV
4.5信息分辨率：≤0.12nm@200KV -
该系统有电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。可以在极短时间内得到高分辨率的图像观察和成分分析，结合高灵敏度的能谱仪可以实现快速的成分分析
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主要用于生命组织和材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析、元素分布分析。
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样品干燥，提前预约
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1.形貌：实际收费按300元/小时，不足0.5小时按0.5小时收费。高分辨+形貌：实际收费按400元/小时，不足0.5小时按0.5小时收费。2.能谱另算，100元/次。
