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测角仪半径300mm；最小步径0.0001度；可进行粉末样品的物相定性与定量分析；计算结晶化度、晶粒大小；确定晶系、晶粒大小与畸变
以及Rietveld定量分析。 -
使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验。CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）。高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）。半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)。
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利用X射线对样品的晶体结构进行定性定量分析。
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样品为固体或者粉末，其中粉末应混合均匀。
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常规：步长0.02°，6°/min，10-90°。10个以上样品：90元/样，；10个以下200元/样。
