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分辨率：高真空模式（二次电子）： 3 nm @ 30 kV 8 nm @ 3 kV
低真空模式（背散射电子）： 3.5 nm @ 30 kV
放大倍数： 2 × - 1,000,000 ×
加速电压： 200 V - 30 kV -
微观形貌分析、微区成分分析
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仪器配有牛津AZtecOne X-MaxN 20能谱仪，其分辨率保证优于 127eV (MnKα处)，分析元素范围：Be4-Cf98。
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样品干燥。
多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理。 样品应具有导电性。
若样品不导电，需要进行镀金、碳等导电膜的处理。 -
SEM形貌:160元/样（图片6张内）
EDS 点扫 140元/样
EDS 线扫 200元/样
EDS mapping 230元/样
