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"1.分辨率：
二次电子:
高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV
高真空减速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可选项)
低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV
环境真空模式 1.4nm @ 30kV
背散射电子:
高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV
扫描透射STEM探测器:
0.8nm @ 30kV
2.加速电压 200V ～ 30kV, 连续可调
3.高稳定性Schottky场发射电子枪
4.最大束流 200nA
5.样品室压力最高达4000Pa
6.样品台移动范围
Quanta 250 FEG: X=Y=50mm
Quanta 450 FEG: X=Y=100mm
Quanta 650 FEG: X=Y=150mm" -
Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程对大样品或块状样品进行分析。广泛应用于工业和理论 材料研究、生命科学、半导体、数据存储、自然资源等领域样品的形貌观察。
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各类样品形貌观察，元素分析
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电话提前2周预约。送检单位若需要先检测1个样品根据结果再测其他样品需注明，样品一经检测，除非确为检验方实验室原因，否则送检方均需要付款。 若对实验结果有异议者，须于收到结果后3天内提出，否则视为无异议。若对结果要求复测者，复测后若结果仍与首次一致可判定为样品原因，则复测需要再收费；若复测后结果与首次不一致可判定为检验方实验室原因者，则复测不收费。检测条件及要求需详细填写，仅根据检测条件及要求栏填写的内容开展测试工作，对于样品中出现概率较小的预期成果，不承诺一定找到，具体以实际样品的测试情况为准。若不详细填写检测要求，则由测试老师根据样品情况自行测试，特此说明。
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咨询相关负责老师
