 
                    纳米粒度分析仪
- 规格型号:Nano-flex II+Stabino II
- 仪器分类:物理性能测试仪器 -> 颗粒度测量仪器 -> 粒度分布测量仪
- 生产厂商: Colloid Metrix
- 仪器设备类别: 通用
- 河南省科学院化学研究所有限公司
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                                    1.快速滴定的电位测量:
 (1)测量原理:流动电位法来测量Zeta电位。
 (2)电位适合的粒度范围:0.3nm-300um。
 (3)电位的测量范围:-3000mVto+3000mV
 (4)pH滴定值范围:1-14
 (5)温度范围:0-90℃
 (6)电导率:0-350mS/cm
 (7)样品浓度:ppb-40%
 (8)能够实现不同 pH、电导率、盐溶液、聚电解质条件下的流动电位和Zeta电位滴定。
 2.纳米粒度测量
 (1)粒度测量测量范围:0.3mm-10um
 (2)激光光源,半导体固定位增激光器。
 (3)检测器:高灵敏硅光电感应二极管,可控参比方法,分析多普勒频移的能谱。
 (4)检测角度:180°。
 (5)分析时间:30-120秒。
 (6)重复性:<±1%。
 (7)激光光路:采用先进的“Y”型光纤光路,外置蓝宝石光纤探头.
 (8)能够实现不同pH、电导率、盐溶液、聚电解质条件下的粒度滴定。
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                                    主要应用于在极宽的浓度应用范围内对悬浮颗粒、乳液及高分子聚合物粒径大小分布、流动电位和Zeta电位的测量。通过快速滴定,测量不同 pH、电导率、盐溶液、聚电解质条件下的Zeta电位、流动电位和粒度的变化。
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                                    电流电位、Zeta电位滴定、粒度滴定。
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                                    24h以上预约;否则,依据测试样品难易程度收取加急费用 周一至周五,8:00-12:00,14:30-17:30(冬令时); 8:00-12:00,15:00-18:00(夏令时)。
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                                    协议收费。
 
             
                                     
                                     
                                     
                
                 
                
                