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                                    测角仪半径:≤140 mm;
 2θ转动范围:-3°~147°;
 最小步长:≤0.002°;
 能量分辨率:<380 eV;
 旋转反射样品台,程序控制转速;
 狭缝系统:发散狭缝(DS)、防散射狭缝(SS)及接收狭缝(RS);
 最大回转速度:≥1000°/min (2θ);
 最大背景噪声:0.4 cps。
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                                    该仪器采用先进的陶瓷X光管技术、高精度的测角仪、超高强度的探测器,可用于各种固体粉末样品的定性定量物相分析、晶粒大小及微观应力分析、结晶度分析及结构精修、确定晶粒大小与晶格畸变等。广泛应用于化学、化工、地质、冶金、陶瓷、环保、医药等领域的研究。
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                                    物质成分、结构分析;定性定量相分析
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                                    在满足校内教学科研工作的基础上,对外实行共享,提前电话联系,说明相关的技术指标和样品准备注意事项,并网上预约。
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                                    按与客户达成的协议执行
 
             
                                     
                                     
                                     
                
                 
                
                