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                                    "1.分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W) 4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
 2.放大倍数:5—1000000x
 3.压力范围:10—400Pa"
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                                    扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料和非金属材料等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。
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                                    用于成分分析,元素定量、定性成分分析
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                                    客户提前申请
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                                    按相关标准执行
 
             
                                     
                                     
                                     
                
                 
                
                