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测角仪 最大定位速度 ≥ 2400°2θ/min,角度准确度≤±0.001°,角度再现精度≤±0.0001°。
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X射线荧光光谱仪,简称:XRF,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品。
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用于元素分析和化学分析
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客户需提前预约
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按相关标准执行