 
                    - 
                                    
                                    1.显微基本指标
 1内部集成光学显微镜,光学放大20-135倍,且有明场及暗场区分
 * 电子放大最高350,000倍
 * 电子光学分辨率优于6nm@15kV
 2.元素探测基本指标 元素探测范围:B(5)-Am(95)
- 
                                    
                                    样品表面形貌快速检测,样品可以EDS能谱分析。设备操作简单,成像快速,放置环境要求低,可以点扫,面扫测试金属、半导体、含磁等材料的表面形貌以及能谱分析。
- 
                                    
                                    样品表面形貌快速检测,样品可以EDS能谱分析。设备操作简单,成像快速,放置环境要求低,可以点扫,面扫测试金属、半导体、含磁等材料的表面形貌以及能谱分析。
- 
                                    
                                    固体或薄膜样品
- 
                                    
                                    内部:80元/样;外部:150元/样
 
             
                                     
                                     
                                     
                
                 
                
                