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分辨率：0.6nm（15KV）；0.7nm（1KV）；1.0nm（0.5KV）；
分析模式分辨率：3.0nm (5kV，5nA， WD=10mm)；
加速电压： 0.1 - 30KV 连续可调；
束流范围：1pA～500nA连续可调；
放大倍率：25X – 1,000,000X ；放大倍数粗、细模式连续可调，具有随着工作距离或加速电压的变化自动精确校正、补偿、预设等功能；
高稳定性浸没式肖特基（Schottky）热场发射电子源，能自动合轴调整；
包含UED和LED探测器；
配有环形多分割的STEM探测器，可以实现明暗场像的观察。 -
该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像观察及图像处理。配有能谱仪（EDS），能同时进行样品表层的微区元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。主要用于观测纳米材料显微结构、尺寸及相互作用；材料微结构、相组成及相分布。
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测试样品的形貌和元素分布
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非磁性样品
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具体收费标准参照本中心为社会提供测试的收费标准执行
