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2θ角度范围:小角0.3°～10°、广角0.5°～130°；
测角仪最小可控步长:0.0001度;
高温样品台温度范围:室温~1200°C
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测试材料组成，物相定量，晶形结构，结晶度，取向，测定材料残余应力。
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1.粉末样品、薄膜样品、块体样品的物相鉴定、定量与结构分析；
2.薄膜样品的厚度分析；
3.块体与薄膜的表面残余应力分析；
4.变温原位测试。
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XRD可以测试粉末、薄膜、块体、镀层、等样品；
粉末要求颗粒尺寸大于200目，200-300目最为适合，手摸无颗粒感，类似于面粉的质感，质量尽量提供0.1 g。块体样品尽量长宽不大于20 mm，高不大于15 mm，并且要求表面平整光洁，最好将块体样品的测试面打磨一下，并且标出测试面。
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常规广角:10°/min60元/样,5°/min120元/样,2°/min180元/样,1°/min360/样；
二维广角：600元/样；
小角散射：200元/样；
残余应力：400元/点/方向；
掠入射：200元/样；
织构：800元/晶面;
高温xrd：≤500°C，600元/小时,50～950°C，800元/小时。
