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                                    总倍率: 54x–17,280x; 视场: 16 µm–5,120 µm; 显示分辨率: 1 nm
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                                    适用于故障分析和材料工程研究
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                                    表面微观测量
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                                    提前一周预约. 遵守操作流程。
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                                    按协议规定收费