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XGT-7200技术参数
测量元素：Na~U
X射线管：铑（Rh）靶 /管电压 50 kV / 管电流 1 mA
X射线荧光检测器：SDD硅漂移检测器
透过X射线检测器：NaI（Ti）晶体
X射线导管：单毛细管 10μm / 100μm 无滤光片
光学图像：样品整体光学像及共轴放大图像
样品台尺寸：XY：100mm×100mm
样品仓：全真空模式/ 最大真空 300mm×300mm×80mm
信号处理：数值脉冲处理器（INCA处理器 ）
定性分析：自动定义谱峰/ KLM线标注/ 谱峰查找/ 谱峰匹配
定量分析：无标样基本参数法/ 标准无标样基本参数法/ 标准文件匹配基本参数法/ 校正曲线/ 多层膜基本参数法/ 多点分析（最多5000）/ 多点结果输出至Excel®
面扫描功能：透过X射线像/ 元素面分布图/ 谱图面扫描 /矩形面扫描/ 生成谱图/ RGB合成/ 标尺/ 线分析
其它功能：可同时开启XGT-5200操作软件 -
可以快速、无损地对样品（固体、粉末、液体、多层镀膜等）的元素组成进行定性、定量分析，还可以通过面扫描功能获得样品的元素面分布图（扫描区域最大可达10 cm×10 cm）。仪器配备的双真空式设计可以在高灵敏度模式或大气氛围模式分析从Na到U的所有元素。可应用于地质矿物、电子电器、生物医药、环境、考古、法医等多个领域。
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贵金属、枪击残留物、爆炸残留物、金属毒物等物质的元素分析。
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1.按照显微X射线荧光光谱仪操作规程使用；
2.请至少提前一周预约。 -
协议收费
