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能量范围：5-20 keV
X射线吸收谱仪能量分辨率：0.5-1.5 eV
(7-9 keV)
光子有效计数率：200,000 photons/s/eV
(7-9keV)
主分析仪晶体：10块球面弯晶 -
主要通过分析吸收边附近和吸收边之后的吸收系数随能量的变化得到电子和原子结构的信息。
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在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构(XAFS)测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。在常规实验室环境中以超高灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位结构分析等，广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域
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样品要求：粉末样品粒度均匀，一般需研磨至 200 目，样品质量最少100 mg； 块状样品则需要表面平整光滑，可进行裁剪。有毒，易燃的样品禁止送样。
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3%≤质量分数≤10%（包含10%）：1200/元素；质量分数＞10%：1000/元素；标样：1000元/元素
