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设备测试能量范围：4.5-15keV,可扩展到19KeV
XAFS测试模式能量分辨率：XANES:0.5-1.5eV，EXAFS:1.5-10eV
X射线源：光通量≥2,000,000 Photons/sec @8keV
最大加速电压：40 kV
最大电流：40mA。
布拉格角范围：55-85°
探测器：铍窗厚度25μm，有效探测面积150 mm2
最低检测限：0.5%以下
可测元素种类：Ti、Mo、Bk、Pd、V、La、Ru、Fe、Eu、Gd、Br、Ra、Ta、U、Dy、Se、Zn、Hf、Pb、Sm、Bi、Mn、Th、Y、Ta、W、Co、Dy、Ni、Er、Tm、Cu、Yb、Lu、Pt、Au、As、Ho、Sr、Pu、Cr、Os、Re -
X射线吸收精细结构谱（X-ray absorption fine structure，XAFS）是一种用于研究物质的原子、电子结构的表征方法。通过测量物质对X射线的吸收特性，XAFS提供了关于物质中原子的信息，包括其化学价态、电子轨道、配位环境以及结构对称性等。
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测试元素氧化态、电子结构、对称性、配位数、配置种类原子间距等信息
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1. 均匀的固体粉末；
2. 提前两周预约。 -
常规样品：院内 1000元/元素/样品
校内 2000元/元素/样品
校外 3000元/元素/样品
其它样品：根据样品具体特性和要求面议
