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仪器X光源系统：
采用微聚焦X射线发生器。最大输出功率：1200 W。额定管最大电压：50 kV，额定管最大电流：24 mA。
旋转阳极光源系统：
靶材：旋转阳极钼靶。最大加载功率：1200 W。最大旋转速度：6000 rpm。靶上焦斑：≤0.075x0.75 mm2。出射焦斑（以6°角出射）：≤0.075 mm2。
探测器系统：
类型：X射线光子直接读取式，无需任何感光媒介，直接曝光并读取。
感应单元：直接读取式硅阵列探测器系统。
检测器活性单元面积：≥77×80 mm2。
像素大小：≤100×100 m²。
硅阵列单元厚度：≥450 m。
冷却方式：空气冷却，无需其他低温系统。
动态范围：≤31 bits。
读取时间：≤7毫秒。
液氮低温系统：液氮低温吹扫制冷。
温度范围：80～500 Kelvin。
温度稳定性：≤0.1 Kelvin。
DAC高压附件：满足对样品在不同压力下的结构相变测试。 -
用于精确测定无机物、有机物及配位化合物(晶体状态)分子的三维立体结构，通过晶体结构计算出测定分子详细的键长、键角、构型、构象、成键电子密度及分子在晶格中的排列情况，对化合物直接、可靠鉴定，为研究物质微观结构与宏观性质的关系提供重要的信息。
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化学、材料科学、分子生物学、药物学、物理学等方面的分析研究，用于精确、快速地测定小分子无机物、有机物、配合物的结构。
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样品要求：单晶，尺寸20~100微米，无裂痕、风化现象，与母液一起提供
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晶体测试费用：【校外：800元/样】，【校内：600/样】，【院内：400/样】
解析费用（可选）：【校外：300元/样】，【校内：200/样】，【院内：200/样】
