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1、Croy-S冷冻样品台适配ZEISS cross beam 350 双束SEM，保证电镜安全性，满足SEM及TEM冷冻制样需求；
2、冷冻制样系统包括独立温度控制系统、独立真空系统；
3、采用高匹配360°（无限）旋转冷台，低温下制样更为便捷；
4、冷台倾转角度55°，匹配FIB制样要求；
5、采用过冷氮气降温方式，冷台温度-180℃；最低温更低
6、采用过冷氮气降温方式，冷阱温度-190℃；
7、冷阱降至最低温所需时间15min；
8、冷台、冷阱具有烘烤功能，回温后出样，保证电镜安全，烘烤温度：80℃。 -
1、对样品降温，用于冷冻电子断层成像样品FIB制备；
2、满足软物质材料的FIB样品制备（如OLED失效分析）需求；
3、避免离子束加工热损伤，满足能源材料的FIB 样品制备（锂金属负极材料、固态电解质等）；
4、实现电子束敏感材料FIB样品制备（MOF、有机无机杂化卤化物钙钛矿材料）。 -
FIB冷冻制样、SEM样品喷金
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该设备为聚焦离子束双束扫描电镜配件，需要结合聚焦离子束双束扫描电镜一起使用
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协议收费
