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光谱测量采用高灵敏度CCD光谱测量系统，波长测量范围：350－1000nm(可定制)；
l 波长测量分辨率：1-10nm（取决于光栅和狭缝）；
l 测量探头：单光子PMT探测器，光谱响应范围300-650nm，计数率线性范围大于2×106/s
l 液氮制冷系统；
l 采用高稳定性加热器，温度测量范围：80K－773K，升温速率范围：0.1-5K/s，温度稳定度：小于±0.5K（60s连续观测）；
l可设置辐照激发、预热、测量和退火等多种测量阶段，每段温度、时间、升温速率都可调；
l 样品尺寸： 直径小于10mm，厚度小于1mm； -
多功能缺陷荧光光谱仪是是一种用于化学、材料科学、物理学领域的固体发光材料三维光谱测量装置
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LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪是测量固体发光材料三维光谱的测量装置。热释光三维发光谱，即包含温度和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构，为了解热释光的发光机制研究提供更加丰富的参数。
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样品尺寸： 直径小于10mm，厚度小于1mm，特殊需求，请提前联系设备负责人。
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2000 元/样
