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1.二次电子分辨率：0.7nm@15kV， 1.2nm@1kV（非样品减速模式下）；
2.放大倍率：12~2,000,000倍；
3.单幅图片最大图像扫描存储分辨率：32000 × 24000像素；
4.能谱仪探测器：有效面积65mm2，能量分辨率：Mn Ka保证优于127eV，元素分析范围：Be4～Cf98；
5.EBSD分辨率1244*1024，配有64位EBSD数据后处理软件包。
6.SE原位拉伸系统最大载荷：5000N，载荷控制精度：±1N；
7.EBSD原位拉伸系统最大载荷：1000N，载荷控制精度：±1N；
8.SE原位加热系统加热温度：室温～1200℃，加热区φ8mm，控温精度：±2℃；
9.高温测试台温度范围：1500℃最大升温速率：5℃/s，温度精确性：±1℃，温度显示精度：0.1℃，温度区域：直径10mm。 -
场发射扫描电子显微镜可利用二次电子探测器及背散射电子探测器对材料进行超高分辨微观组织形貌分析。可在低电压状态下对样品进行高分辨率、高衬度和高信噪比的观测。该设备配有牛津UltimMax 65能谱仪，可对材料微区成分元素种类与含量分析；配有牛津Symmetry S3电子背散射衍射仪（EBSD），可应用于相统计、物相标定、晶粒度分析、晶粒取向分析、织构分析、位错密度。
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SEM+BSE拍摄、EDS+EBSD分析测试、力学原位常规测试、力学原位加热测试
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提前7天预约
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SEM、EDS模块：300元/小时
EBSD模块：400元/小时
力学原位常规测试：400元/小时
力学原位加热测试：600元/小时
