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主要技术参数
温度范围：室温 最小扫描步长：0.1μm
X方向最大扫描范围：150mm 扫描速度：20mm/s
Y方向最大扫描范围：150mm 自动聚焦范围：50mm
Z方向最大扫描范围：20mm Z方向最大样品高度：150mm -
美国 NANOVEA 公司是一家全球公认的在微纳米尺度上的光学表面形貌测量技术的领导者，生产的三维非接触式表面形貌仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进表面轮廓测量设备之一，采用目前国际最前端的白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的测试分析，通过专业的三维分析软件可得到样品表面的任意参数，例如：二维高度曲线分布图，二维等高线分布图，三维表面形貌图、孔的深度，孔的宽度，孔的面积，孔的体积，台阶高度，一维线粗糙度参数，二维线粗糙度参数，样品的波纹度，功率谱密度，表面高度分层统计，自相关统计等表面参数的测量。
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可对材料表面粗
糙度、磨损体积等
进行测试。 -
提前7天预约
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可对材料表面粗
糙度、磨损体积等
进行测试：100元/小时
