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主要技术参数
温度范围：室温～2000℃
测量范围：0～± 50 mm
位移分辨率：0.1nm
升温速率：0.01～50℃/min
负载力范围：10mN~3N
力分辨率：0.001mN
位移测量系统：NanoEye自反馈光电位移测量系统
数据库：具有曲线自动识别检索技术及对应数据库
自动测量样品长度及多点触控功能，在样品支架内自动将样品调整至最佳位置。 -
热膨胀仪（DIL）是使样品处在一定的温度程序（升／降／恒温及其组合）控制下，对样品施加一定的负载力，测量样品在一定方向上的长度随温度或时间的变化过程。利用热膨胀仪，可以测量材料的膨胀与收缩、玻璃化转变温度、软化点温度、相变温度，研究烧结过程，优化烧结工艺，热处理工艺优化，添加剂和原材料影响，作反应动力学研究等。该技术广泛应用于陶瓷材料、金属材料、塑胶聚合物、建筑材料、耐火材料、复合材料等领域。
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样品热膨胀系数测试
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提前7天预约
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1600℃以下，400元/h；
1600℃以上，600元/h。
（5℃/min升温速率）
