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检测技术：X 射线吸收精细结构（XANES / EXAFS）与 X 射线发射谱（XES）
X 射线源：微焦斑 X 射线管（风冷或水冷）
能量范围：2–15 keV（覆盖常见 3d/4d 过渡金属 K 边）
能量分辨率：≤1.0 eV（XANES 区）
探测器：SDD / CCD（按配置）
样品形态：粉末、薄膜、块体、液体（可选原位池）
测试模式：透射 / 荧光 / 发射模式
自动化：自动能量扫描、数据采集与谱图处理 -
元素价态与配位环境分析（XANES / EXAFS）
局域电子结构与化学键信息解析（XES）
多样品自动测试与批量数据处理
光谱拟合、定量与标准样对比分析
数据导出，支持科研数据格式 -
设备安装、调试与验收
用户操作与数据分析培训
软件升级与远程技术支持
仪器维护、故障排查与部件更换 -
台式设备性能低于同步辐射装置，适用于实验室常规与对比研究
测试前需合理选择能区与样品制备方式
高原子序数或低含量样品需延长测试时间
非专业人员不得擅自拆卸或修改系统
数据解读需结合参考样与专业模型分析 -
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