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最佳能量分辨率优于0.45 eV；最佳空间分辨率优于20 µm；X射线光电成像（XPI）的最佳空间分辨率优于3 µm；在洁净的银表面采XPS谱，在能量分辨率优于0.6 eV的情况下，灵敏度不低于1M CPS；对于绝缘样品PET来说，在能量分辨率优于0.82 eV的情况下，灵敏度不低于60,000 CPS。
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X射线光电子能谱（XPS）、X射线光电成像（XPI）、单色化X射线源（光斑尺寸200微米至900微米可调）、双束中和能满足绝大部分不导电样品的要求、能量可调（200－4000 eV）的氩离子束刻蚀、团簇，离子散射谱（ISS）、反射电子能量损失谱（REELS）
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纳米材料的表面分析以及深度分析
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电话预约送样：需注明样品状态、是否有挥发性成分（碘、硫、氟需要特殊注明），测试条件，测试元素，数据格式以及是否是加急样品
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常规分析/样品（扫描5遍）：400元(4元素)/样品+80元×超出数/样品（扫描5遍，每个样品加50元；扫描10遍，每个样品加100元）；深度分析/样品（扫描5遍）：400元/层(4元素) +80元×超出数/样品（扫描5遍，每个样品加50元；扫描10遍，每个样品加100元）
