单球差校正透射电子显微镜
- 规格型号：JEM-ARM300F2
- 仪器分类：分析仪器 -> 显微镜及图像分析仪器 -> 其他
- 生产厂商： 日本电子株式会社
- 仪器设备类别： 专用
- 河南省科学院量子材料与物理研究所
-
12极子STEM单球差矫正器 WGP极靴,复杂原位实验
300KV/80KV/40kV工作电压 配置高速电子偏转控制模块
Dectris Arina 4D STEM混合像素电子探测器
59 pm @300kV 分辨率 -
原子级结构分析：TEM成像、HAADF/ADF/BF成像、电子衍射等；
原子级成分分析：可通过EDS，EELS等实现原子级元素构成以及分布；
可实现针对磁性材料的 Lorentz 模式成像，实现对磁结构的直接分析;
进行能量过滤成像，能量损失谱成像，用于分析元素价态、电子结构等信息；
4D-STEM表征，发展新型空间分辨方法，如叠层成像（Ptychography）；在原子尺度下测量电磁场、测量样品内应力分布；
原子尺度下材料在多场（应力、温度和电场等外场）及耦合环境下的原位动态观测 -
亚埃尺度结构与成分分析：
1、HAADF/ADF/BF成像；
2、原子级结构、成分、缺陷表征；
3、4D-STEM下高时空分辨率表征，叠层成像、材料内部电磁场分布、晶体取向、应变分布表征；
4、多场（应力、温度和电场等）及耦合环境下的原位动态观测。 -
预约前请联系设备管理员。
-
3000元/小时
常规原位实验额外加收1000 元/样
EDS额外加收 200元/小时
高端需求另议价:低电压,原位，EELS，4D-STEM等
培训费用 20000元/人次
