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一、分辨率（核心）
空间分辨率：≤500 nm；像素细节分辨能力：平板探测器：200 nm；物镜耦合探测器：40 nm； 密度分辨率：0.2%–0.5%；尺寸测量精度：≤500 nm
二、X射线源（开管透射式，微/纳焦点）
最高管电压：190 kV（可选160/225/240 kV）；最大管电流：1 mA；最大功率：80 W -
获取文物的三维内部结构，精准再现各层面的断层图像，用于分析制作工艺、隐藏损伤、内部残留物等立体信息。
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在文物保护领域提供一系列无损、高分辨率、三维可视化的技术服务
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样品要求
尺寸：≤φ300×300 mm，严格不超；超高分辨模式（物镜耦合）样品更小。
重量：≤15 kg，超重伤旋转台、轴承。
状态：干燥、无油、无粉尘、无挥发物；含水/湿样品必须烘干/冷冻干燥，否则真空下挥发污染镜筒、探测器，造成永久伪影。
导电性：金属/矿物无妨；非导电样品建议喷碳/金，减少荷电伪影。
禁测：易燃、易爆、强腐蚀、剧毒、放射性、易挥发液体/凝胶。 -
协议收费
