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钨灯丝电子源，加速电压 0.5–30kV；高真空分辨率 3nm (30kV)、8nm (3kV)、15nm (1kV)，低真空 30kV 分辨率 4nm，放大倍数 5×–300000×。样品台 X80/Y40/Z5–48mm，倾斜 - 10°~+90°、360° 旋转，最大样品 Φ150mm、高 48mm；搭载 SE、BSE 双探测器，标配 JED-2300 硅漂移 EDS（25mm²），可元素点扫、线扫、面分布分析。低真空 10–100Pa 适配绝缘样品，图像最高 5120×3840 像素，配套 SMILE VIEW 分析软件，支持距离、粒径、形貌定量测量。
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观测材料、生物样品微观表面形貌，搭配 EDS 能谱实现微区元素定性、定量及面分布分析；高低真空模式兼顾导电、绝缘试样，大行程样品台可多角度观测，图像高清采集，配套软件完成粒径、形貌尺寸定量测量，支撑材料、地质、生物微观表征。
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生物、土壤、食品、材料等样品的形貌观察和元素相对定量分析。
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用于生物、土壤、食品、材料等样品的形貌观察和元素相对定量分析。
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校内200元/小时；校外400元/小时
