双球差校正透射电子显微镜
- 规格型号：JEM-ARM300F2
- 仪器分类：分析仪器 -> 显微镜及图像分析仪器 -> 其他
- 生产厂商： 捷欧路（北京）科贸有限公司
- 仪器设备类别： 专用
- 河南省科学院量子材料与物理研究所
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晶格分辨率:50 pm @300kV ;
EDS能量分辨率：优于 133eV;
EELS 能量损失谱分辨率：≦0.35 eV (@300 kV) ，≦0.32 eV (@80 kV)； -
球差校正透射电镜是用球差校正装置修正球差的透射电镜，JEOL ARM 300F2 双球差校正透射配置了12极子双球差矫正器、FHPII极靴实现极致分辨率、300kV/200kV/80kV/40kV工作电压, Dectris Stela 4D STEM混合像素探测器,电子能量损失谱系统(EELS).
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球差校正透射电镜是用12极子双球差矫正器校正球差的透射电镜。
用于物质科学领域样品的亚埃尺度结构与成分分析，如原子级结构与成分分析、4D-STEM、EELS、原位表征。 -
样品无磁性，无水分、无挥发性、无放射性物质。
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3000元/小时
常规原位实验额外加收1000 元/样
EDS额外加收 200元/小时
高端需求另议价:低电压,原位，EELS，4D-STEM等
培训费用 20000元/人次
