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1. 点分辨率：0.24 nm
2. 线分辨率：0.10 nm
3. 信息分辨：0.14 nm
4. STEM分辨率：0.19 nm
5. 最高放大倍数：TEM 100万倍；STEM 330万倍
6. 最高加速电压：200 kV
7. 最大能谱（仪）探测面积：30 mm2
8. B~U元素的半定量分析 -
TEM、HRTEM、STEM成像; EDX能谱, 电子衍射。
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主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成像分析。广泛用于材料、化学、物理、电子和生物医学等领域。
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提前一周预约，遵守学校科研规定
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基本形貌 300元/样品，高分辨加收150元/样品，衍射加收150元/样品，能谱（点线均可）加收100元/样品，能谱面扫加收300元/样品。
