 
                    - 
                                    
                                    1、频率范围:10MHz-50GHz,4个测试端口,2.4MM,测试接口,可配置测试座:支持TIL校准技术,保证测量精度,具有精确地功率控制和去嵌入技术,兼容其他晶片上校准软件。
 2、信号源部分内置可独立设置的扫源
 3、内置合路器,可将两个扫源,在矢网内部合路后,从同一个测试端口输出
- 
                                    
                                    半导体器件进行S参数测试
- 
                                    
                                    对半导体器件进行在片小信号s参数、功率、噪声系数测试
- 
                                    
                                    请提前一周预约
- 
                                    
                                    500-1000元/小时
 
             
                                     
                                     
                                     
                
                 
                
                