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1、X射线发生器功率为3KW
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪最小步进为1/10000度
4.、测角仪配程序式可变狭缝
5、高反射效率的石墨单色器
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7、小角散射测试组件
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件
10、In-Plane测试组件（理学独有）
11、高速探测器D/teX-Ultra
12、X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13、分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 -
1、粉末样品的物相定性与定量分析
2、计算结晶化度、晶粒大小
3、确定晶系、晶粒大小与畸变
4、Rietveld定量分析
5、薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6、In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7、小角散射与纳米材料粒径分布
8、微区样品的分析
9、智能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域
10、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
11、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 -
样品测试分析
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定期对外开放，需提前一周申请
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院内50元/样品，校内100元/样品，校外300元/样品
