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（1）SEM：分辨率为1.0nm（15kV），2.0nm（1kV）；加速电压为0.5～30kV；；放大倍数30~800, 000倍；仪器带有减速功能，配有冷场发射电子枪及高性能E×B探测器，可获取二次电子图像和背散射图像。
（2）EDS能谱仪：采用Si（Li）探测器，配备30mm2超薄窗，能量分辨率优于133eV，检测元素范围为Be(Z=4)~U(Z=92)，具有点、线、面扫描功能。 -
冷场发射扫描电子显微镜（SEM）是一种高精密度的电子光学仪器。广泛应用于材料科学、催化、医学、生物、地质勘探、钻井、采油等领域多类样品的微观形貌观察、结构分析、成分测试等。
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该仪器目前主要针对各类催化剂、油田化学品、高分子膜材料、钢材料失效分析及器件的表面损伤分析、陶瓷、生物材料等的分析，特别适合各种无机纳米材料的微观形貌的高分辨分析。随机配有EDS能谱仪，可对样品指定微区的化学组成进行定性和半定量分析。
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设备购置已满11年，已过最低报废年限，故障频发。且其主要用于材料、国际以及先进技术研究院的本科、研究生等教学以及本校大学生创新创业训练计划，暂不对外开放。
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300元/次
