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小角X射线散射(Small-Angle X-ray Scattering)是一种用于纳米结构材料的无损分析方法。布鲁克 NANOSTAR具有光束强度高、平行性好和二维探测器。工作电压45KV 电流0.65mA； 铜靶光源，波长0.154nm。配有二维位移控制台，可以精确控制被测样品位置，控制精度0.1mm。
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分析并澄清样品的性质。
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可以分析并澄清样品的性质，甚至在样品颗粒不对称或表现有择优取向的情况下。SAXS能够给出1-100纳米范围内的颗粒尺度和尺度分布以及液体、粉末和块材的形貌和取向分布等方面的信息。可测材料的：结晶度，形状和内部结构，周期性纳米结构，取向性，聚集有序度等结构信息。
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提前一周预约，厚度在1 mm左右的块状、片状、棒状等固体样品。
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400 元/样
