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该设备最大输出功率：3KW。扫描方式：thera/thera测角仪。最小步进：0.00010。角度重现性：≤0.00010。
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其主要应用有：粉末样品的物相定性、定量分析；计算结晶化度、晶粒大小；确定晶系、晶粒大小与畸变；Rietveld结构分析；薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度；In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构；小角散射与纳米材料粒径分布；微区微量样品的分析等。
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可以分析的材料种类包括：金属材料、无机材料、有机材料、复合材料、纳米材料、超导材料等。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品等。
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正常工作日开放；事前电话联系确认试验内容、试样要求及各种手续要求。
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粉末试样：1000元RMB/试样；薄片试样：2000元/试样。
