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厚度 范围 400-990μm 精确度≤±0.5 μm
RES 低阻测量范围是0.001~0.999Ω•cm; 高阻测量范围是0.2~199.9Ω•cm 精确度≤±2%
平整度 精确度≤±0.15 μm
型号 准确无误
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测量硅片表面几何参数,以及电阻率型号等
厚度可测中心点,可测全表面2000余点,出最大最小值
平整度测量两种测量方式,局部平整度测量4种方式,
电阻率测量范围为中心至边缘(尺寸不同,距离边缘距离有差别) -
测量硅片厚度,表面平整度、电阻率、型号
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提前3-7天预约
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4-8寸硅片;厚度200元/片,平整度(TTV、TIR、STIR)600元/片,弯曲翘曲(包含平整度)800元/片,电阻率200元/片,型号100元/片。全测1200元