X-射线荧光光谱仪

可分析固体,粉末,熔珠等. 标准分析范围:O到U （允许扩充到Be到U）.切换快速以及稳定,故障率低,外电源波动1%,稳定性达到0.00006%. DOPS system Goniometer直接光学定位（专利）测角仪角度再现精度 0.0001o; θ/2θ Scintillation Detector, 8o to 104o 2θ, 1500 kcps max （<1%）闪烁探测器, 8o to 104o 2θ,在 <1%线性范围内最大计数 1500kcps. Gas Density Stabilizer P10密度稳定器(恒流,恒压,恒温)
*Flow Detector, 13o to 148o 2θ, 3000 kcps max （<1%）流气探测器, 13o to 148o 2θ,在 <1%线性范围内最大计数 3000kcps. SST陶瓷超尖锐长寿命X射线光管（专利）, 4.0 KW, 60KV, 160mA, 75μ超薄
防渗漏铍窗.超长使用寿命,强度在使用寿命内没有任何衰减.（配套相应的4KW高压发生器, 60KV, 160mA）

广泛应用于地质、环境、冶金、水泥、化工、玻璃、陶瓷、医药研究、以及航空航天的等领域，可以对金属材料、玻璃材料、陶瓷材料、矿物地质材料、半导体材料、化工材料进行检测研究。被测材料多样化，可以是固体、松散粉末、或粉末压片、熔融片、液体类、油类、漆类、浆类、箔类、首饰、颗粒、纳米材料以及薄膜类等形式。还可检测镀层和薄膜的厚度及成分。在原材料、成品检验、生产过程质量控制、开发新材料、确定污染以及认证标准合规性等方面，起着不可替代的作用。

原材料、玻璃成分分析

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单项元素测定收费 1000元/项