粗糙度测试仪
- 规格型号：SURFCOM 475A
- 仪器分类：计量仪器 -> 长度计量仪器 -> 表面粗糙度基准装置
- 生产厂商： TOKYO SEIMITSU 东京精密
- 仪器设备类别： 专用
- 河南安彩高科股份有限公司
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1、测量参数：Ra,Rmax，Rz,RMS,Rt,Ry,Rp,Rv,Rc,Rtm，Sm，θa，Pc，tp，WCM,Wc.Sm，WCA，WEM，WE.Sm，WEA。
2、测量范围：最大±400μm。
3、记录纵倍率：100，200，500，1000，2000，5000，10000，20000，50000，100000倍。
4、CUTOFF值：R（0.25，0.8，2.5mm）——驱动速度0.3mm/s。
WCM（0.8，8mm）
WCA（0.08～0.8，0.8～2.5mm） 驱动速度3mm/s。
WE（0～0.8，0～2.5mm）
5、数据输出：RS-232-C。
6、驱动速度：0.03，0.06，0.15，0.3，0.6，1.5，3mm/s。
7、直线度精度：（0.05＋1.5L/1000）μm L：测量长度。
8、测定子：型号（0102501）针头金刚石材料5μmR 90°圆锥角。
9、测定力：小于4mN（400gf）。
10、石底盘电动测定台底盘尺寸：600（W）×316（D）mm 测定高度：0～250mm。
11、PICKU移动驱动距离：100mm。 -
装载有Ra、Rz、Ry、Sm、S、tP等多种粗糙度和波纹度的分析参数，能够分析电子零件的高低落差、膜厚以及面积等。满足多种材料的表面测试
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玻璃表面粗糙度
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请提前1周预约
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协议收费
