-
Cu靶，陶瓷X光管，电压≤40kV，电流≤40mA，θ/θ 立体式测角仪，采用光学编码器技术与步进马达双重定位，转动范围-11°至168°，测角仪半径：≥200nm，最小步长：0.001°，角度重现性：0.001°；驱动方式：步进马达驱动，最高定位速度：≥1000°/mm
-
用于固体材料的物相分析（定性分析）结构表征，晶粒尺寸测定，分析纳米粒度大小及粒径分布，物象定量分析，薄膜物象鉴，测量纤维或高分子样品的物相.取向度等、织构分析、应力分析等，无损测试，用量少，精密度高
-
固体材料的物相分析（定性分析）结构表征，晶粒尺寸测定，分析纳米粒度大小及粒径分布，物象定量分析，薄膜物象鉴，测量纤维或高分子样品的物相.取向度等、织构分析、应力分析
-
需提前预约，每周四开放
粉末样品要求：干燥，在空气中稳定，粒度小于 20μm，粉末样品量约需 2至4g；
块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状或丝状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状 -
100元/样
