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"该设备是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。主要技术参数如下：仪器配陶瓷精聚焦X 射线管，标准尺寸Cu 靶；
测角仪：q/q立式测角仪，采用光学编码器技术与步进马达双重定位；
扫描方式：θ/θ可联动或单动，样品水平放置；
测角仪半径：185～285 mm；
2q扫描范围：-3°～+160°；
驱动方式：步进马达驱动，扫描速度：0.1º～50º /min。 -
粉末样品、块状样品及薄膜材料等多晶样品的物相定性、定量分析
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可进行粉末样品、块状样品及薄膜材料等多晶样品的物相定性、定量分析
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用户需要进行测试可联系负责老师进行预约，联系人：孙国平，联系电话：13676924995，安排合适的时间进行测试服务。
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200元/每个样品
