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加速电压：200V-30KV
放大倍数：14X-1,000,000X；
分辨率：
高真空
-30KV下1.0nm（SE）
-30KV下2.5nm（BSE）
-1KV下3.0nm（SE）
低真空
-30KV下1.4nm（SE）
-30KV下2.5nm（BSE）
-3KV下3.0nm（SE）
环境真空（ESEM）
-30KV下1.4nm（SE） -
利用高能入射电子束与样品原子核及核外电子间作用，对样品表面形貌进行微观成像。应用于金属、超导材料、陶瓷、多孔材料、生物组织等表面形貌观察，配有X射线能谱仪，可同时进行显微组织的形貌观察和微区成分分析。
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样品测试
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提前一个工作日网上预约仪器。
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校内150元/样，
校外300元/样
