
-
放大倍数 25×~40000×,
X/Y最高分辩率 0.12μm
Z轴最高精度0.01μm -
高分辨二维及三维成像,可测量产品表面形貌、晶相分析、表面粗糙度、深度测量,材料缺陷分析等
-
分析(检验)测试
-
提前一周预约
-
协议收费