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扫描范围:200×200μm~320×323.5mm
最大扫描厚度:50mm
最大扫描速度:1.5m/s
重复精度±0.1μm -
可利用不同材料对超声波声阻抗不同,对声波的吸收和反射程度不同,来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。更有效地检测出产品脱层,裂缝,空洞和孔隙。
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无损探伤
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预约
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协议收费