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分辨率：3.0 nm @ 30 KV (SE 与W) 4.0 nm @ 30 KV (VP with BSD ) 加速电压：0.2-30KV 放大倍数：5-1000000 x 探针电流：0.5PA-5μA X-射线分析工作距离：8.5mm 35度接收角 低真空压力范围：10-400Pa（选配10-750Pa、LS10:环扫模式10-3000pa） 工作室：365mm (Φ) x 275 mm (h) 5轴优中心自动样品台：X=125mm Y=125mm Z=50mm T= -10°- 90° R=360°(l连续) 较大试样高度：145mm 大试样直径：250mm 系统控制：基于Windows 7 的SmartSEM 操作系统 存储分辨率为32,000 x 24,000 pixels
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扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。
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铜及铜合金材料的微观形貌、组织、成分分析，断口分析和失效分析，实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。
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委托检测
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协议商定
