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扫描模式：ScanAsyst成像模式
contact mode(接触模式)
tapping mode(轻敲模式)
Phase imaging（相位成像）
噪音水平：低于0.03nm RMS值
像素点：256*256到5120*5120
采样点：不少于16000点 -
表面形貌观察、尺寸测定、表面粗糙度测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、涂层尺寸台阶测定和缺陷分析等。
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表面形貌观察、尺寸测定、表面粗糙度测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、涂层尺寸台阶测定和缺陷分析等。
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提前一周预约，遵守学校科研规定。
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薄膜样品：200元/样；粉末样品：300元/样
（单个样品测试时间不超过1小时）
