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扫描模式：ScanAsyst成像模式
contact mode(接触模式)
tapping mode(轻敲模式)
Phase imaging（相位成像）
噪音水平：低于0.03nm RMS值
像素点：256*256到5120*5120
采样点：不少于16000点 -
是一款先进的扫描探针显微镜.
形貌观测：能准确观测样品表面微区纳米及亚微米尺度的三维形貌，显示纳米级别的表面形貌信息，如粗糙度、纹理和高度差异等。
力学性能测试：可表征微纳米尺度材料表面力学机械性能，如力曲线，还能进行定量纳米力学测试，获得材料表面模量、附着力、形变量、能量损耗等。
电学与磁学性能分析：基于多种测试模式，可探测样品的电学、磁性等性能，如表面电势、磁场力、静电力、压电力等。
其他性能研究：可对样品表面物理化学特性进行研究，还能在外加场环境下如拉伸、变温和液下等实现自主拓展以及原位实验的测试。 -
表面形貌观察、尺寸测定、表面粗糙度测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、涂层尺寸台阶测定和缺陷分析等。
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周一至周五（工作日）
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薄膜样品：200元/样；粉末样品：300元/样
（单个样品测试时间不超过1小时）
