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1. 靶材: Cu靶。2. 功率：2.2Kw 最大工作电压60kV, 最大工作电流55mA。3. 2θ角度测试范围0.3-140°，最小步长0.0001°。
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固体样品，粉末样品，薄膜样品（1~1000 nm）的X射线粉末衍射检测，包括小角散射功能模块（纳米颗粒粒度分布），薄膜分析功能模块（薄膜物相分析），空气气氛下变温检测模块（-150至450℃的中低温分析模块，室温至1200℃的中高温测试模块）。
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1、各种无机材料、金属材料、有机材料、复合材料、粉末的物相定性分析；2、晶体物质的定量、半定量分析；3、纳米材料的粒度大小分析（1-100nm）；4、结晶度分析；5、微区衍射分析；6、薄膜物相(掠入射法)分析(1-1000μm)。
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科研、教学、企业内部质量控制、企业产品研发等目的需要相关检测数据的申请人，可根据需求对我中心具有的仪器设备进行咨询并提出测试申请。申请人需提前3个工作日向我中心提出申请并提供相关标准及技术要求；我中心调研判断符合共享条件的，通知申请人先进行网上预约，预约成功后中心会与申请人沟通样品要求、测试条件、测试方法、送样时间等信息，并在约定时间内提供检测数据。
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普通粉末样品100元/样，特殊测试另行收费。
